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        膜厚仪测量注意事项
        点击次数:436 发布时间:2019-04-25
         

        涂层测厚仪又称膜厚仪、镀层测厚仪或漆膜测厚仪。主要针对金属基材上面的涂镀层厚度测试。 涂层测厚仪测量时注意事项如下:
        1,基体金属特性:对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面 粗糙 度 ,应当与试件基体金属的磁性和表面 粗糙度 相似。
        2,基体金属厚度:检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,进行校准后,可以测量。
        3,边缘效应:不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。
        4,曲率:不应在试件的弯曲表面上测量。
        5,读数次数:通常由于仪器的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。
        6,表面清洁度:测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质。
        7,磁场:周围各种电气设备所产生的磁场会严重干扰磁性测厚工作
        8,测头取向:测头的放置方式对测量有影响,在测量时应该与工件保持垂直

         
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